Charon 5000

支持尺寸达1.5米的大型天线球面近场测试系统。采用高精度弧形扫描导轨,基于天线物理模型的场源重构理论,具有相控阵天线的多波位快速测试能力,支持近场EIRP、G/T、GD和SFD等系统指标的测试。

产品参数

  • 工作频段 7.5GHz~50GHz(可扩展至1GHz~50GHz)
  • 外尺寸 8m×6.9m×5m(L×W×H)
  • 屏蔽度 ≥70dB
  • 被测件重量 ≤500kg
  • 被测件尺寸 ≤1.5×1.5×1.5m
  • 扫描半径 2.5m
  • 扫描角度 φ:±90°;θ:0~180°。
  • 分辨率 ±0.02°
  • 测试不确定度 0.25dB(峰值增益)
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测试功能

天线性能:天线方向图(幅度/相位)、波束宽度、旁瓣电平、轴比、波束指向、相位中心等;

系统性能:EIRP、 G/T值、SFD、GD、单元诊断等;


Charon系列

通用测试提出了基于天线物理模型的场源重构理论,扩展了传统球面近场系统的测试能力。通用测试的相控阵天线快速测量系统Charon系列,除了具备传统球面近场对各类无源天线的测试能力,对于相控阵天线,可利用其单元阵中方向图和单元激励信息,通过几个波位的近场方向图采样,反演并预测得到其他所有波位的远场方向图,实现相控阵天线多波位快速测试。

Charon 5000
支持尺寸达1.5米的大型天线球面近场测试系统。采用高精度弧形扫描导轨,基于天线物理模型的场源重构理论,具有相控阵天线的多波位快速测试能力,支持近场EIRP、G/T、GD和SFD等系统指标的测试。
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